SJ 50033.164-2003 半导体分立器件PIN0002型PIN二极管详细规范

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fiOa I,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/164—2003,半导体分立器件,PIN0002 型 PIN 二极管,详细规范,Semiconductor discrete devices,Detail specification for type PIN0002 PIN diode,200372-15 发布2004-03-01 实施,中华人民共和国信息产业部 批准,SJ 50033/164—2003,刖言,本规范是GJB 33A-97《半导体分立器件总规范》的相关详细规范.,本规范由信息产业部电子第四研究所归ロ,本规范起草单位;中国电子科技集团公司第五十五研究所,本规范主要起草人:黄玉英、李苏萍,SJ 50033/164-2003,半导体分立器件,PI N0002型PIN二极管详细规范,范围,本规范规定了 PIN0002型PIN二极管(以下简称器件)的详细要求,2引用文件,下列文件中的有关条款通过引用而成为本规范的条款J凡注日期或版次的引用文件,其后的任何修,改单(不包括勘误的内容)或修订版本都不适用于本规范,但提倡使用本规范的各方探讨使用其最新版,本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件,其最新版本适用于本规范,GB/T 6570—86 Z微波二极管测试方法,GJB 33A—97/半导体分立器件总规范ーー,GJB128A—97:半导な分立器件试验方法,3要求 ‘、:,3. 1 总则 ー.. :,器件应符合GJB 33A—97和本规范规定的所有要求。本规范的要求与总规范不一致时,应以本规,范为准。 :,3.2 设计、结构和外形尺寸,3.2.1 概述 ー ー,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33A-97和本规范的规定,3. 2.2引出端材料和镀层,器件采用金属陶瓷管壳封装,下电极材料为无氧铜,上电极材料为可伐」引出端表面镀层为金,3.2.3 器件结构 ,ノ,本器件采用硅材料PIN台式结构制作ア玻璃钝化保护,”陶瓷金属化同轴型管壳封装,3.2.4 外形尺寸 、二:丁, 一:へー,外形尺寸见图1。 J1%「よーヾ;二",L…ご 丒fW,单位为毫米,尺寸代号,极限值,最小最大,6D 1.1 L3,H L1 L4,负极标志,图1外形尺寸,I,SJ 50033/164—2003,3.3 最大额定值和主要电特性,3. 3.1最大额定值,最大额定值见表員,表1最大额定值,工作电压%,V,耗散功率戶」,(7\=25*C),W,正向电流h,A,贮存温度ア施,*C,工作温度7び,*C,200 2 2 -65-200 -65-150,1 7\>25ヒ时,按lL4mW/K线性降额.,3. 3.2主要电特性(な=25C),主要电特性见表2,表2主要电特性,参 数条 件,规范值,单位,最小最大,反向电流k 200 V — 1 PA,正向微分电阻,PIN0002A,PIN0002B,在4=30 mAt 尸 50 Hz,— L42,138,Q,L,总电容ロ) KR=30V, /= 500 kHz ■■ ■■ 027 pF,热阻R %=160V. 48 h,1I中间测试ム、Ct61丒30)、rF,12功率老炼1038 试验条件瓦アa=100:;3 负偏压叠加正弦信号片50 H爲,/. = 50mA, FRM=120Vt 96h,13最后测试,…一,按本规范表4中A2分组规定:,1ハ在丨W0.1Q:,卜なで::;(気丁芸初始值的10%,14密封,a)细检漏,b)粗检漏,1071 户,.デ ” .;1,ノ 一… >,W J - ザメ, ' パ,* ピ: i れ 1J,- - + 1 ゴレ ッ?,试验条件Hい最大泄漏率为5XW3Pa ?cm% .一^- _t一エ 、 - - J,试验条件C Fス ノ,16外观及机械检查*Z 2071,-1 1 >%,未指明的试验不适用. ノ,1,4.3鉴定检验」「ラー 一 丒,鉴定检验应按GJB 33A—9フ和本规范表4、表5、表6和表7的规定进行「一,4. 4质量一致性检验;,4.4.1 概述.「、:「ニ エ…;;…. 」,质量一致性检盼应按GJB 33A-9ア和本规范的规定。所进行的检验应符合本珈范规定的A、B和C,组检验口;“ 、 ,……

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